VCSEL
Vollständige schlüsselfertige Burn-in- und Prüfprobelösung für VCSEL auf Wafer-Ebene.

Trooper-BI

Wafer-Level VCSEL Burn-in Handler
Vollständige schlüsselfertige Burn-in- und Prüfprobelösung für VCSEL auf Wafer-Ebene, die bis zu 1.500 DUTs pro Durchgang bei kontrollierter Temperatur bis zu 190 °C testen kann.

VCSEL, LED
Bis zu 1.500 pro Wafer-Einheit
Programmierbar
±50μm
Stromquellenbereich: ±20mA bis 1.500mA
Strommessgenauigkeit: 0,2mA oder ±1%
Einhaltungsspannung: 24V DC
Spannungsquellenbereich: 5~24V DC
Spannungsquellen-Genauigkeit: 20mV oder ±1%
Temperaturmesssteuerung: Umgebung bis 190 °C
Temperatur-Einstellbereich: 25 °C bis 250 °C
Temperatur-Einstellauflösung: 0,1 °C bis 0,5 °C
Betriebstemperatur: 20 °C bis 30 °C Betriebsfeuchtigkeit: <85% RH, nicht kondensierend
Visuelle Inspektionsfunktionen:Oberflächenprüfung der Wafer-Einheiten, Anzeige von Pass-/Reject-Status, Strom (If) und Spannung (Vf) Überwachung für jede Einheit, Golden-Unit-Überwachung

LED
Führt Burn-in-Tests bei LED auf Wafer-Ebene unter hoher Luftfeuchtigkeit, Temperatur und Stromstärke durch.

LED Burn-in Handler
Ein vollständig anpassbarer Burn-in-Testhandler für LEDs mit programmierbaren Konstantstromtreibern und individuell konstantem Stromtreiber sowie Überwachung von offenen und kurzgeschlossenen Schaltkreisen.

LED
Bis zu 4.000 pro Wafer-Einheit
Programmierbar
Stromquellenbereich: ±20mA bis 100mA
Strommessgenauigkeit: 0,2mA oder ±1%
Einhaltungsspannung: 24V DC
Spannungsquellenbereich: 5~24V DC
Spannungsquellen-Genauigkeit: 20mV oder ±1%
Temperaturmessbereich: Umgebung bis 130 °C
Temperatur-Einstellbereich: 45 °C bis 130 °C
Temperatur-Einstellauflösung: 0,1 °C
Betriebstemperatur: 20 °C bis 30 °C
Betriebsfeuchtigkeit: <85% RH, nicht kondensierend
Visuelle Inspektionsfähigkeiten: Oberflächeninspektion der Wafer-Einheiten mit Anzeige von Pass-/Reject-Status, Überwachung des Stroms (If) und der Spannung (Vf) für jede Einheit, Sondenreinigung, Golden-Unit-Überwachung