SiC | GaN | Leistungsmodule

Wir bieten End-to-End-Lösungen für Siliziumkarbid (SiC), Gallium-Nitrid (GaN) und Leistungsmodule, die speziell an die Bedürfnisse der Hersteller angepasst werden können.

Unsere Lösungen decken nahezu jeden Aspekt des Fertigungsprozesses ab, von der Produktmontage, Komponentenprüfung, optische Inspektion bis hin zur Verpackung.

Automatisierte optische Inspektionslösungen

Unsere fortschrittliche AOI-Bildgebungstechnologie ermöglicht schnelle und präzise Inspektionen, um Defekte, Bauteilfehlausrichtungen und andere Fertigungsabweichungen zu erkennen.

Burn-in-Lösungen

Unsere Burn-In-Reihe unterstützt eine unterschiedliche Anzahl von Chucks und Konfigurationen, um die Produktivität (UPH) optimal an die Kundenanforderungen anzupassen. Vollständige Anpassungsfähigkeit für Serienproduktionstests:

Testlösungen

Wir bieten End-to-End-Testlösungen für IPM-, SiC- und GaN-basierte Leistungsbauteile und decken sowohl Front-End- als auch Back-End-Tests ab.